日本三豐TM系列工具顯微鏡 適合于測量加工件的長度、直徑和角度，小型化設計，十分適于在車間等狹小空間使用。

主要特點： 1.FEI ESEM（環境掃描電鏡）技術,可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。 2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。 3.先進的系統結構平臺，全數字化系統。 4.可同時安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統。 5.可安裝低溫冷臺、加熱臺、拉伸臺等進行樣品的原位、動態觀察和分析。